智力低下是一種常見的，而且對(duì)患者的生活造成很多的傷害，遠(yuǎn)離智力低下工作成了我們生活中不可缺少的，因此很多人對(duì)于智力低下不了解。智力低下是發(fā)生在很多人身上，嚴(yán)重威脅患者健康。智力低下有哪些檢測(cè)方法呢?

篩查法

按通用的智力測(cè)驗(yàn)方法檢查時(shí)，往往需要較長(zhǎng)的時(shí)間，有時(shí)需1～2小時(shí)以上，不利于一般兒科醫(yī)生或小兒保健普查時(shí)應(yīng)用，所以采用一些簡(jiǎn)易的篩查方法。測(cè)試的內(nèi)容大多是從各種經(jīng)典的智力測(cè)驗(yàn)方法中選出。測(cè)驗(yàn)時(shí)僅須較短的時(shí)間，可以初步篩查出可疑病例。篩查結(jié)果只能做為需要不需要進(jìn)一步檢查的依據(jù)，不能據(jù)此而做出診斷。目前國(guó)內(nèi)常用的篩查方法有以下幾種。

(1)丹佛智力發(fā)育篩查法(Denver developmental screening test,DDST)：適用于初生至6歲小兒，方法操作簡(jiǎn)便，花費(fèi)時(shí)間少，工具簡(jiǎn)單，信度和效度均好。此法已被世界各地廣泛采用。我國(guó)于80年代初開始應(yīng)用此法。根據(jù)我國(guó)社會(huì)、經(jīng)濟(jì)、語(yǔ)言、文化、教育方法和地理環(huán)境的特點(diǎn)，將DDST進(jìn)行了標(biāo)準(zhǔn)化處理，并繪制了小兒智力發(fā)育篩查量表 (DDST-R)。

(2)繪人測(cè)驗(yàn)：根據(jù)畫出的人形進(jìn)行評(píng)分，判斷智力發(fā)育水平，適用于5～12歲兒童智力篩查。年齡較小的孩子有得分偏高而年齡較大小兒有得分偏低的趨勢(shì)。引測(cè)驗(yàn)與其他智力量表測(cè)驗(yàn)所得的IQ有明顯的相關(guān)性。

診斷法

(1)韋氏兒童智力量表(WISC-CR)：適用于6～16歲兒童。

(2)中國(guó)-韋氏幼兒智力量表(CWYCSI)：適用于4～6歲半兒童。

(3)嬰幼兒發(fā)育檢查量表(Gessell ScaleR)適用于0～3歲兒童。

適應(yīng)行為評(píng)定法

1.嬰幼兒-初中學(xué)生社會(huì)生活能力量表適用于6個(gè)月～13歲至15歲兒童。此量表是診斷MR及分級(jí)不可缺少的工具。

2.新生兒行為神經(jīng)評(píng)分法(NBNA) 全國(guó)協(xié)會(huì)組已通過(guò)調(diào)查研究，確定了全國(guó)新生兒NBNA正常范圍，其臨床應(yīng)正在逐步開展。

智力低下這種疾病導(dǎo)致原因是很多的，智力低下在臨床醫(yī)學(xué)上人們不陌生了，而且智力低下是一種對(duì)人體的傷害很大疾病，而且智力低下還嚴(yán)重影響患者的心理健康，給患者造成很大的壓力和困擾。